科技日報北京4月24日電 （實習記者張佳欣）來自奧地利格拉茨大學的研究人員近日開發(fā)了一種新的測量和成像方法，可在不需要任何染料或標簽的情況下解析小于光衍射極限的納米結(jié)構(gòu)。這種激光掃描顯微鏡新方法彌補了傳統(tǒng)顯微鏡和超分辨率技術(shù)之間的差距，有朝一日或可被用來觀察復雜樣品的精細特征。
在國際光學出版集團的高影響力期刊《光學》上描述的這種新方法，是對激光掃描顯微鏡的改進，它使用強聚焦激光束照射標本。研究人員擴展了這項技術(shù)，不僅可以測量光與被研究標本相互作用后的亮度或強度，還可以檢測光場中編碼的其他參數(shù)。
“我們的方法可幫助擴展用于研究各種樣品中納米結(jié)構(gòu)的顯微工具箱。”研究小組組長彼得·班澤說，“與基于類似掃描方法的超分辨率技術(shù)相比，我們的方法是完全非侵入性的，這意味著它不需要在成像前向標本中注入任何熒光分子。”
研究表明，新方法可測量金納米顆粒的位置和大小，精度為幾納米，即使在多個顆粒接觸的情況下也可做到。
在激光掃描顯微鏡中，光束在樣品上掃描，并測量來自樣品的透射光、反射光或散射光。大多數(shù)顯微方法測量來自樣品的光強度或亮度，但大量信息存儲在光的其他特性中，例如它的相位、偏振和散射角。為了捕捉這些額外信息，研究人員檢查了強度和偏振信息的空間分辨率。
研究人員表示，光的相位、偏振和強度，在空間上都會發(fā)生變化，這種變化方式包含了與之相互作用的樣品細節(jié)，然而，如果只在相互作用后測量總體光功率，那么大部分信息都會被忽略。
研究人員研究了含有不同大小的金屬納米顆粒的簡單樣品，通過掃描感興趣的區(qū)域，然后記錄傳輸光的偏振和角度分辨圖像展示了這種新方法。他們使用一種算法對測量數(shù)據(jù)進行評估，該算法創(chuàng)建了一個粒子模型，模型可自動調(diào)整，以盡可能精確地模擬測量數(shù)據(jù)。
班澤說，盡管這些顆粒及其距離比許多顯微鏡的分辨率極限要小得多，但新方法能夠解決這一問題。更重要的是，該算法能夠提供有關(guān)標本的其他參數(shù)，如顆粒的精確大小和位置。
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